XRD測試_X射線衍射檢測
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XRD測試_X射線衍射檢測
XRD測試_X射線衍射檢測用于物相分析,定性,定量分析,可以對物質的組成及物相進行表征分析。
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XRD測試(X射線衍射儀)用于檢測物相,測定材料的晶體組成.定性,定量分析。 Ø XRD原理 X射線衍射分析（X-ray diffraction，簡稱XRD），是利用晶體形成的X射線衍射，對物質進行內部原子在空間分布狀況的結構分析方法。 Ø 儀器型號：BRUKER D8 ADVANCE Ø 儀器技術參數
ü 小角衍射最小角可以達到0.4度，主要測量介孔材料和其他高分子復合材料。廣角衍射：最低角度可以達到5度，可以精確接收到小于10度的衍射峰。 ü 測量精度：角度重現性±0.0001°；測角儀半徑≥200mm，測角圓直徑可連續變 ü 最小步長0.0001°；角度范圍（2θ）：-110～168°；溫度范圍：室溫～900℃； ü 最大輸出：3KW；穩定性：±0.01%；管電壓：20～60kV(1kV/1step)；管電流：10～60mA。 Ø 送樣要求及注意事項 ü 固體粉末：均勻干燥，粒度小于100um（過80目），質量不少于100 mg； ü 塊體、金屬及薄膜樣品：需加工出一平整的表面，尺寸約為20mm×10mm×2mm Ø 測試實例   Ø 服務流程  Ø 更多專業技術教程博客：http://blog.sina.com.cn/jituotech
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