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XRD測試_X射線衍射檢測
XRD測試_X射線衍射檢測
XRD測試_X射線衍射檢測用于物相分析,定性,定量分析,可以對物質的組成及物相進行表征分析。
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XRD測試(X射線衍射儀)用于檢測物相,測定材料的晶體組成.定性,定量分析。

Ø  XRD原理

X射線衍射分析(X-ray diffraction,簡稱XRD),是利用晶體形成的X射線衍射,對物質進行內部原子在空間分布狀況的結構分析方法。

Ø  儀器型號:BRUKER D8 ADVANCE

Ø  儀器技術參數

ü  小角衍射最小角可以達到0.4度,主要測量介孔材料和其他高分子復合材料。廣角衍射:最低角度可以達到5度,可以精確接收到小于10度的衍射峰。

ü  測量精度:角度重現性±0.0001°;測角儀半徑≥200mm,測角圓直徑可連續變

ü  最小步長0.0001°;角度范圍():-110168°;溫度范圍:室溫~900℃;

ü  最大輸出:3KW;穩定性:±0.01%;管電壓:2060kV(1kV/1step);管電流:1060mA

Ø  送樣要求及注意事項

ü  固體粉末:均勻干燥,粒度小于100um(過80目),質量不少于100 mg

ü  塊體、金屬及薄膜樣品:需加工出一平整的表面,尺寸約為20mm×10mm×2mm

Ø  測試實例

XRD測試
XRD檢測

Ø  服務流程


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