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XPS測試_光電子能譜檢測
XPS測試_光電子能譜檢測
XPS測試(光電子能譜)用于檢測材料表面元素半定性分析,化學價態分析,腐蝕層厚度
  • 描述
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XPS測試(光電子能譜)用于檢測材料表面元素半定性分析,化學價態分析,腐蝕層厚度。

Ø  XPS原理

X射線光電子能譜(XPS),基于光電離作用,當一束光子輻射到樣品表面時,光子可以被樣品中某一元素的原子軌道上的電子所吸收,使該原子解脫原子核的束縛,以一定的動能從原子內部發射出來,變成自由的光電子,而原子本身則變成一個激發態的離子。當固定激發源能量時,其光電子的能量僅與元素的種類和所電離激發的原子軌道有關,由此根據光電子的結合能定性分析物質的元素種類。經X射線輻照后,從樣品表面射出的光電子的強度與樣品中該原子的濃度呈線性關系,可以進一步進行元素的半定量分析。另外,XPS的重要應用是對元素的化學價態進行分析。

Ø  儀器型號:Thermo Scientific K-Alpha

Ø  儀器技術參數

ü  離子源:100-4000eV

ü  束斑直徑:1-10mm

ü  濺射速率范圍:0.1-50nm/min

ü  采樣深度:金屬0.5-2nm,無機物1-3nm,有機物3-10nm

Ø  送樣要求及注意事項

ü  固體粉末:均勻干燥,粒度小于70um(過200目),質量不少于100 mg

ü  塊體、金屬及薄膜樣,長寬小于10mm,高度小于5mm

ü  含有揮發性、油污污染物的樣品許提前去除. 帶有磁性的樣品,一定提前告知,否則設備損壞。

Ø  測試實例

XPS測試
XPS檢測,光電子能譜測試

Ø  服務流程

Ø  更多流變專業技術教程博客:http://blog.sina.com.cn/jituotech

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