SEM測試_掃描電鏡檢測
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SEM測試_掃描電鏡檢測
SEM測試_掃描電鏡檢測用于測試材料表面形貌,外觀,粒徑,元素組成及其分布。
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SEM測試(掃描電鏡)用于檢測材料表面形貌,測試材料外觀形貌;分析材料的粒徑,測定元素組成及測量其分布。 Ø SEM原理 樣品表面加一個強電場，樣品表面勢壘降低，由于隧道效應，樣品金屬內部的電子穿過勢壘從金屬表面發射出來，這種現象稱場發射。亮度高約比普通SEM高100倍，分辨率可達10nm. Ø 儀器型號：ZEISS Merlin Compact Ø 儀器技術參數
ü 二次電子分辨率: 1.4nm (1 kV，減速模式) ü 放大倍率: x 20~ x 800,000 ü 電子槍: 冷場發射電子源 Ø 送樣要求及注意事項 ü 粉狀樣品50-100mg之間 ü 塊狀樣品不能大于5mm寬，高度小于5mm. ü 樣品有磁性一定要告知。 Ø 測試實例    Ø 服務流程  Ø 更多專業技術教程博客：http://blog.sina.com.cn/jituotech
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