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MaldiTOF測試_基質輔助飛行時間質譜檢測
MaldiTOF測試_基質輔助飛行時間質譜檢測
MaldiTOF測試_基質輔助飛行時間質譜檢測用于化合物的絕對分子量、化合物的同位素含量分析、推斷化合物的分子式。
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maldi-tof-ms測試(基質輔助激光解吸電離飛行時間質譜)用于檢測化合物的絕對分子量、化合物的同位素含量分析、推斷化合物的分子式。
式。

Ø  MALDI-TOF原理

質譜法是將被測物質離子化,按離子的質荷比分離,測量各種離子譜峰的強度而實現分析目的的一種分析方法。質量是物質的固有特征之一,不同的物質有不同的質量譜——質譜,利用這一性質,可以進行定性分析(包括分子質量和相關結構信息)。

Ø  儀器型號:Bruker solanX FT-MALDI-TOF

 Ø  儀器技術參數

ü  普通分辨率:m/z=0.01, 高分辨率:m/z=0.001

ü  質量范圍:502000 amu

ü  ESI /APCI SRM

ü  靈敏度:1pg利血平峰對峰S/N> 200:1

ü  最高分辨率:≥10M

ü  掃描速度:全量程掃描5000u/秒;

ü  質量穩定度:+/- 0.050 amu

Ø  送樣要求及注意事項

ü  固體或者液體。20100mg于塑料離心管中。

ü  樣品完全溶于一種可揮發常見溶劑(甲醇,乙醇,丙酮等)。

ü  可以揮發,不熱分解。

Ø  測試實例

Maldi-tof測試,基質輔助

Ø  服務流程



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