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ICPMS測試_原子發射光譜質譜檢測
ICPMS測試_原子發射光譜質譜檢測
ICPMS測試_原子發射光譜質譜檢測用于材料元素含量測試, P, Si。
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ICPMS測試(原子發射光譜質譜聯用)用于檢測材料微量金屬元素含量,也可測定硅,硫,磷等元素.分析精度可達ppb級別

Ø  ICP-MS原理

測定每種化學元素的氣態原子或離子受激后所發射的特征光譜的波長及強度來確定物質中元素組成和含量。用于微量元素的分析,可分析的元素為大多數的金屬和硅、磷、硫等少量的非金屬。

Ø  儀器型號:Agilent 7500ce

Ø  儀器技術參數

ü  靈敏度:低質量數 Li(7):50 Mcps/ppm

ü  檢測限:低質量數Be(9):0.5ppt;中質量數In(115):0.1ppt;高質量數Bi(209):0.1ppt

ü  氧化物干擾: CeO+/Ce+:1.5 %(7700x):3.0 %(7700s)

ü  雙電荷干擾: Ce2+/Ce+:3.0

ü  同位素比精度: RSD(107Ag/109Ag) 0.1%

ü  質譜范圍:2-260 amu

ü  豐度靈敏度:低質量端:5x10-7;高質量端: 1x10-7

Ø  送樣要求及注意事項

ü  液體或固體,100mg-5g之間。

ü  能全部溶解常見的無機溶劑中,如水,硫酸,鹽酸,硝酸,王水等

Ø  測試實例

ICP-MS測試
ICP-MS檢測
ICP-MS分析

Ø  服務流程


Ø  更多專業技術教程博客:http://blog.sina.com.cn/jituotech

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